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Thermal Testing of Integrated Circuits

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Libro Rigido
Libro Thermal Testing of Integrated Circuits Antonio Rubio
Codice Libristo: 08348631
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc., giugno 2002
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric sy... Descrizione completa
? points 339 b
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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes.

Informazioni sul libro

Titolo completo Thermal Testing of Integrated Circuits
Autore Antonio Rubio
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - Rigido
Data di pubblicazione 2002
Numero di pagine 204
EAN 9781402070761
ISBN 9781402070761
Codice Libristo 08348631
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc.
Peso 547
Dimensioni 160 x 240 x 18

Categorie

Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria elettronica e delle comunicazioni > Ingegneria elettronica > Elettronica: circuiti e componenti
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