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Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy
Lingua
Inglese
Inglese
Libro
Rigido
Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more comple...
Codice Libristo: 04891639
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736 b
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Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
Informazioni sul libro
Titolo completo
Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy
Autore
Wai-Kin Chim
Lingua
Inglese
Inglese
Rilegatura
Libro - Rigido
Data di pubblicazione
2000
Numero di pagine
288
EAN
9780471492405
ISBN
047149240X
Codice Libristo
04891639
Casa editrice
John Wiley & Sons Inc
Peso
716
Dimensioni
176 x 262 x 21
