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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

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Libro Rigido
Libro Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy Thomas Vogt
Codice Libristo: 01427170
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc., marzo 2012
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made u... Descrizione completa
? points 339 b
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing

Informazioni sul libro

Titolo completo Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Autore Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter G. Binev
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - Rigido
Data di pubblicazione 2012
Numero di pagine 182
EAN 9781461421900
ISBN 146142190X
Codice Libristo 01427170
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc.
Peso 459
Dimensioni 155 x 235 x 14

Categorie

Matematica e Scienze > Chimica > Chimica fisica > Chimica quantistica e teorica
Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria meccanica e dei materiali > Scienza dei materiali > Test dei materiali
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