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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Lingua IngleseInglese
Libro Rigido
Libro Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations Ronald G. Reifenberger
Codice Libristo: 03611606
Casa editrice World Scientific Publishing, novembre 2015
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements... Descrizione completa
? points 360 b
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The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of s

Informazioni sul libro

Titolo completo Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Autore Ronald G. Reifenberger
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - Rigido
Data di pubblicazione 2015
Numero di pagine 340
EAN 9789814630344
ISBN 9789814630344
Codice Libristo 03611606
Casa editrice World Scientific Publishing
Peso 614
Dimensioni 158 x 238 x 23

Categorie

Matematica e Scienze > Scienza: argomenti di interesse generale > Nanoscienze
Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Tecnologia: argomenti di interesse generale > Nanotecnologia
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