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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Lingua IngleseInglese
Libro In brossura
Libro Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations Ronald G. Reifenberger
Codice Libristo: 03611607
Casa editrice World Scientific Publishing, novembre 2015
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements... Descrizione completa
? points 153 b
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The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of study. These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM. Relevant background material is often reviewed in depth and summarized in a pedagogical, self-paced style to provide a fundamental understanding of the scientific principles underlying the use and operation of an AFM.

Informazioni sul libro

Titolo completo Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Autore Ronald G. Reifenberger
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - In brossura
Data di pubblicazione 2015
Numero di pagine 340
EAN 9789814630351
ISBN 9789814630351
Codice Libristo 03611607
Casa editrice World Scientific Publishing
Peso 492
Dimensioni 229 x 155 x 19

Categorie

Matematica e Scienze > Scienza: argomenti di interesse generale > Nanoscienze
Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Tecnologia: argomenti di interesse generale > Nanotecnologia
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