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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Lingua IngleseInglese
Libro In brossura
Libro Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis Alvin W. Czanderna
Codice Libristo: 01421940
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc., dicembre 2010
Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b... Descrizione completa
? points 521 b
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Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Informazioni sul libro

Titolo completo Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Autore Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - In brossura
Data di pubblicazione 2010
Numero di pagine 430
EAN 9781441932990
ISBN 1441932992
Codice Libristo 01421940
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc.
Peso 1390
Dimensioni 152 x 229 x 25

Categorie

Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria meccanica e dei materiali > Scienza dei materiali > Test dei materiali
Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria elettronica e delle comunicazioni > Ingegneria elettronica > Dispositivi e materiali elettronici
Storia e Archeologia > Storia > Storia militare
Matematica e Scienze > Chimica > Chimica analitica
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