Spedizione gratuita con Packeta per un prezzo superiore a 79.99 €
BRT 7.99 Punto BRT 7.99 DHL 7.99 HR Parcel 7.49 GLS 3.99

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Libro Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H. Cohen
Codice Libristo: 01378792
Casa editrice Springer Science+Business Media, aprile 1997
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
? points 521 b
220.39
Magazzino esterno in piccole quantità Inviamo tra 13-16 giorni

30 giorni per il reso


Potrebbe interessarti anche


Doktore, bacha na ženský! Patrick Taylor / Rigido
common.buy 8.66
China's Food and Agriculture / In brossura
common.buy 23.00
African American Anti-Colonial Thought 1917-1937 BERGIN CATHY / In brossura
common.buy 57.79
Geological Structures and Moving Plates R.G. Park / In brossura
common.buy 181.86
Fernweh Monique H Van Den Dries / In brossura
common.buy 27.29

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Regala questo libro oggi stesso
È facile
1 Aggiungi il libro al carrello e scegli la consegna come regalo 2 Ti invieremo subito il buono 3 Il libro arriverà all'indirizzo del destinatario

Accesso

Accedi al tuo account. Non hai ancora un account Libristo? Crealo ora!

 
obbligatorio
obbligatorio

Non hai un account? Ottieni i vantaggi di un account Libristo!

Con un account Libristo, avrai tutto sotto controllo.

Crea un account Libristo